4月16日至18日，由学校承办的第六届电子元器件辐射效应国际会议在扬州举行。校党委书记丁建宁出席开幕式并致辞。
丁建宁简要介绍了学校的办学情况及学科发展现状。他指出，电子元器件辐射效应研究是航空航天、微电子、核能技术等领域的前沿课题，是电子系统在辐射环境下可靠性保障的重要基础。他表示，期待通过搭建高水平学术交流平台，持续促进电子元器件辐射效应领域新理论、新方法、新技术的交流与合作，为提升我国航天领域电子元器件辐射效应创新发展提供新引擎。
中国科学院院士吴宜灿、中国工程院院士李得天围绕相关主题作了主旨报告。来自北京大学、清华大学、上海交通大学、哈尔滨工业大学、复旦大学、西安电子科技大学、中科院空间中心、中科院微电子所，航天五院、八院、九院，北京紫微宇通科技有限公司、加拿大萨斯喀彻温大学、日本高知大学、英国萨里大学、俄罗斯国立核能研究大学等单位的600余名专家学者，围绕电子材料和器件辐射效应损伤机理、电子/光电器件与电路辐射效应、可靠性保证技术与测试、空间和地面辐射效应表征、辐射效应的新概念与进展等关键核心问题展开了深入研讨。
